形貌觀察

（1）電子顯微形貌觀察與測(cè)量

背景介紹

材料表面的微觀幾何形貌特性在很大程度上影響著它的許多技術(shù)性能和使用功能，近年來隨著科技的發(fā)展，對(duì)各種材料表面精度也提出了越來越高得要求。

掃描電子顯微鏡是目前常見的用于表面形貌觀察的分析技術(shù)。具有高分辨率，較高的放大倍數(shù)；景深效果好，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡(jiǎn)單；配有X射線能譜儀裝置，可同時(shí)進(jìn)行形貌觀察和微區(qū)成分分析。

通過掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌，為研究樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)提供了便利，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝。

觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結(jié)構(gòu)等。

應(yīng)用范圍

材料、電子、冶金、航空、汽車地學(xué)、醫(yī)學(xué)、機(jī)械加工、半導(dǎo)體制造、陶瓷品等。

測(cè)試步驟

對(duì)樣品進(jìn)行表面鍍鉑金，按照標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)流程放入掃描電子顯微鏡樣品室中，對(duì)客戶要求的測(cè)試位置進(jìn)行放大觀察并測(cè)量。

推薦標(biāo)準(zhǔn)

JYT 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則

（2）光學(xué)顯微形貌觀察與測(cè)量

項(xiàng)目介紹

光學(xué)顯微鏡是利用凸透鏡的放大成像原理，將人眼不能分辨的微小物體放大到人眼能分辨的尺寸，其主要是增大近處微小物體對(duì)眼睛的張角（視角大的物體在視網(wǎng)膜上成像大）。普通光線的波長(zhǎng)為400——700nm，光學(xué)顯微鏡的優(yōu)秀分辨率是0.2 um，人眼的分辨率是0.2 mm，所以顯微鏡的最高放大倍率通常為1000 X。一般的光學(xué)顯微鏡有多個(gè)可以替換的物鏡，這樣觀察者可以按需要更換放大倍數(shù)。因?yàn)椴捎每梢姽庾鳛楣庠矗鈱W(xué)顯微鏡對(duì)于色彩的識(shí)別非常敏感和準(zhǔn)確，不僅能觀察樣品表層組織而且在表層以下的一定范圍內(nèi)的組織同樣也可被觀察到。

應(yīng)用領(lǐng)域

光學(xué)顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高的特點(diǎn),適用于表面觀察與測(cè)量，不僅可以鑒別和分析各種金屬、合金、非金屬制品的表面缺陷及集成電路、印刷電路板、線材、纖維、表面噴涂等表面現(xiàn)象的檢查，還可以廣泛地應(yīng)用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質(zhì)和透明的物質(zhì)。

目的

各業(yè)界對(duì)外觀等問題越來越重視，對(duì)產(chǎn)品制造工藝要求越來越嚴(yán)格，產(chǎn)品外觀的評(píng)級(jí)很大程度上反應(yīng)了產(chǎn)品質(zhì)量。通過用光學(xué)放大輔助裝置檢查產(chǎn)品外形、裝配、表面是否有裂紋、孔洞以及焊接不良等缺陷，檢驗(yàn)生產(chǎn)線工藝、印刷線路板的質(zhì)量以及電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷等，有助于監(jiān)控制作工藝流程，及時(shí)對(duì)檢驗(yàn)的結(jié)果采取糾正措施，為生產(chǎn)過程的作業(yè)以及產(chǎn)品質(zhì)量保證提供指導(dǎo)，保證產(chǎn)品符合在最終使用環(huán)境下的形狀、配合及功能要求。

應(yīng)用范圍

根據(jù)因零件的使用特性，允收標(biāo)準(zhǔn)一般包括理想狀況、允收狀況、拒收狀況等三種狀況。主要應(yīng)用于工裝檢具、金屬件等的檢定，電子產(chǎn)品組裝、偏移、焊接異常檢驗(yàn)，PCB/PCBA線路、防焊、孔、零件對(duì)準(zhǔn)度以及文字圖形缺陷檢驗(yàn)。

測(cè)試步驟

確認(rèn)樣品類型→確認(rèn)檢驗(yàn)規(guī)范→將樣品放在光學(xué)顯微鏡下觀察→記錄觀察現(xiàn)象→結(jié)果評(píng)定

bIPC-6012   剛性印制板的鑒定及性能規(guī)范

IPC-A-610  電子組件的可接受性

IPC-A-600  印制板的可接受性