測(cè)試簡(jiǎn)介
溫濕度環(huán)境試驗(yàn)主要應(yīng)用于考核電工電子產(chǎn)品、元件、材料等在恒定濕熱、溫度循環(huán)變化等條件下，成品或部件的使用及貯存適應(yīng)性，是產(chǎn)品中應(yīng)用廣泛的人工加速模擬試驗(yàn)類型。
測(cè)試名稱
主要包括低溫測(cè)試、高溫測(cè)試、恒溫恒濕測(cè)試、交變濕熱、溫度循環(huán)測(cè)試、快速溫變測(cè)試等。
應(yīng)用范圍
廣泛用于電子電氣、車輛、醫(yī)療、儀器儀表、石油化工等領(lǐng)域，整機(jī)、元器件、包裝、材料等。
測(cè)試能力
總溫度范圍：-70℃~+200℃
總濕度范圍：10%RH~98%RH
普通溫變箱升降溫速率：1~2℃/min
快速溫變箱升降溫速率：1~25℃/min
設(shè)備容積范圍：0.4 m3~21m
待測(cè)產(chǎn)品類別/樣品數(shù)量
需確認(rèn)樣品尺寸大小、樣品數(shù)量、周期或時(shí)間、是否帶電測(cè)試、測(cè)試前后功能檢查等。
測(cè)試周期
普通測(cè)試周期：測(cè)試時(shí)間+2WD
檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)：
低溫試驗(yàn)：GB/T 2423.1-2008.IEC 60068-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
高溫試驗(yàn)：GB/T 2423.2-2008.IEC 60068-2-2-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
恒定濕熱試驗(yàn)：GB/T 2423.3-2016.IEC 60068-2-78-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
交變濕熱試驗(yàn)：GB/T 2423.4-2008.IEC 60068-2-30-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12+12小時(shí)循環(huán)）
溫度變化：GB/T2423.22-2012.IEC 60068-2-14-2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變
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